一．MCU測驗
1．mcu作業電壓及電流, 測驗超低功耗MCU作業電壓是否在作業電壓規模，電壓過高會影響MCU的正常作業乃至燒壞，作業電壓過低會影響MCU的外圍電路驅動才能，低功耗芯片乃至導致外圍電路不能正常作業。
2． mcu靜態電流
靜態電流是衡量低功耗MCU功用的主要參數之一，靜態電流越小越好，依據MCU標準 書測驗靜態電流是否符合要求，一旦MCU有損壞的話，靜態電流就會變大，會添加產品的靜耗，致使產品全體功耗添加。
3．mcu的振動頻率
如MCU為外接晶振型的，需求檢測其正常作業時超低功耗MCU芯片的晶振輸入腳的振動頻率是否正確，假如晶振振動頻率不符合要求則會影響產品的守時及延時，乃至不能正常作業。
二．.產品的組合功用測驗(低功耗MCU芯片在線體系測驗)
1．測驗單片機軟件功用的完善性。這是針對一切單片機體系功用的測驗,測驗軟件是否寫的正確完好。
2．上電、掉電測驗。在運用中用戶必然會遇到上電和掉電的狀況,能夠進行屢次開關電源,測驗單片機體系的可靠性。
3．老化測驗。測驗長期作業狀況下,單片機體系的可靠性。必要的話能夠放置在高溫,高壓以及強電磁攪擾的環境下測驗。
4、ESD和EFT等測驗。能夠運用各種攪擾模仿器來測驗單片機體系的可靠性。例如運用靜電模仿器測驗單片機體系的抗靜電ESD才能;運用突波雜訊模仿器進行快速脈沖抗攪擾EFT測驗等等。 還能夠模仿人為運用中,可能發生的損壞狀況。例如用人體或許衣服織物成心沖突單片機體系的觸摸端口,由此測驗抗靜電的才能。用大功率電鉆接近單片機體系作業,由此測驗抗電磁攪擾才能等。
